Palestra Técnica da Agilent
Título: Análise de amostras complexas por GC/MS envolvendo colunas mais eficientes, deconvolução, GCxGC e uso de MS de alta resolução.
Sobre o Palestrante: Graduação em Química Industrial pela UFSM de Santa Maria, RS. Mestrado e Doutorado em Química Analítica pela USP, SP.
Pesquisador em instrumentação analítica na Instrumentos Científicos CG Ltda - SP de 1987 a 1992.
Engenheiro de suporte e depois cientista de aplicações na Hewlett Packard / Agilent Technologies Brasil desde 1992 até hoje.
